Efficient Hardware Information-Flow Tracking for Pre-Silicon Security Testing
硬件在设计制造之前通常通过寄存器传输级（RTL）仿真进行验证。为了测试与安全相关的信息流属性（如机密性和完整性），可以在设计中自动添加污点逻辑来跟踪信息如何流动。然而，最先进的污点逻辑仪器（如CellIFT）使基于仿真的测试开销过高：在Me
#硬件安全
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← 返回所有主题Characterizing the Fault Response of the Intel Neural Compute Stick 2 Under Single-Pulse Electromagnetic Fault Injection
本研究针对 Intel 神经网络计算棒 2 (NCS2) 中的 Myriad X VPU，开展了系统性的单脉冲电磁故障注入 (EMFI) 实验。作者在 OpenVINO 运行时上运行了三个 ImageNet 训练的卷积神经网络（ResNet
The 1-Bit Barrier is Universal: k-Stage Pipeline Composition and Unified Leakage Bounds for Standard Modular Reductions in PQC Hardware
该论文是系列正式验证分析掩码NTT（数论变换）硬件安全性论文的第7篇，针对后量子密码（PQC）硬件中的侧信道泄漏问题。论文证明了在任意深度k级流水线中，采用新鲜中间掩码和每级PF-PINI(≤2)小工具（gadgets）的掩码NTT实现，每