本文提出了一种名为WIGHT的新型攻击方法，首次通过充电线缆在电容触摸屏上实现“幽灵触摸”攻击。电容触摸屏是智能手机、平板等设备的主要人机交互接口，其安全性至关重要。WIGHT攻击的原理是利用充电线缆注入精心设计的共模噪声信号，该信号能够绕过设备本身的降噪和电压管理技术，干扰触摸屏的电容检测机制。攻击者需要让受害者设备连接到恶意充电端口（如公共充电站），即使使用USB数据隔离器或不同功率适配器仍可能有效。攻击的关键在于将恶意噪声与屏幕测量扫描周期同步，从而精确控制幽灵触摸的位置。作者实现了三种攻击类型：注入攻击（无需触摸即可产生触摸）、篡改攻击（改变合法触摸位置）和拒绝服务攻击（阻止设备识别合法触摸）。实验在6款智能手机、1款平板、2个独立触摸屏面板、6种电源适配器和13种充电线缆上进行，证明了三种攻击的可行性。该研究揭示了一个新的威胁向量，即仅通过连接恶意充电口即可操控触摸屏，可能导致恶意蓝牙连接、接收带病毒文件等后果。

本研究针对 Intel 神经网络计算棒 2 (NCS2) 中的 Myriad X VPU，开展了系统性的单脉冲电磁故障注入 (EMFI) 实验。作者在 OpenVINO 运行时上运行了三个 ImageNet 训练的卷积神经网络（ResNet-18、ResNet-50、VGG-11），通过 1536 次热点定位测试和约 16000 次参数搜索测试，观察到单脉冲引发的四种可重复故障输出类别：无精度变化、微小静默数据损坏 (SDC)、重大持久性退化（在后续推理中持续存在直至模型重新加载），以及设备挂起需 USB 断电重启。其中，重大退化类在特征热点处以 18%–31% 的概率发生，导致 Top-1 精度降至 5% 以下，且该状态在所有后续推理中保持，直到显式重新加载模型——这种机制无法被任何推理 API 级别的检测手段捕获。更关键的是，即使在模型已加载但设备空闲时注入脉冲，也能触发该退化状态，表明仅靠加载时的完整性检查不足以防范。论文讨论了按严重程度分级的缓解策略，重点是可应用层实现且无需修改设备固件或 OpenVINO 运行时的措施。该工作填补了公开文献中对商用神经推理加速器在瞬态硬件干扰下故障响应的系统性表征空白，对部署在安全关键边缘场景的 AI 系统具有重要参考价值。

该论文是系列正式验证分析掩码NTT（数论变换）硬件安全性论文的第7篇，针对后量子密码（PQC）硬件中的侧信道泄漏问题。论文证明了在任意深度k级流水线中，采用新鲜中间掩码和每级PF-PINI(≤2)小工具（gadgets）的掩码NTT实现，每个观察值的原像基数上界为2·q^{2k-2}（通过Lean 4机器检验，无漏洞）。在标准语义解释（除以总掩码元组空间大小q^{2k-1}）下，每个观察值的条件概率上界为2/q，与流水线深度k无关。主要贡献包括：1) k级组合定理，推广了之前2级结果，证明只有最后一级的PF-PINI参数影响界限；2) 证明Montgomery归约满足PF-PINI(2)且最大重数严格为2；3) 将各组件整合为端到端界限；4) 通过Lean验证的假设违反条件锚定先前的经验性和结构性Adams Bridge分析。该工作为掩码PQC硬件提供了可扩展的理论安全界，并经过正式验证。