Injected and Leaked: Actively Inducing Side-Channel Leakage Using Electromagnetic Injection and Hardware Nonlinearity

本文探讨了电磁（EM）侧信道泄漏与电磁注入两种物理现象的结合，突破了传统上将它们视为独立威胁的认知。背景方面，传统EM侧信道分析通常被动监听秘密信息产生的高频辐射，而EM注入一般用于故障注入干扰电路。作者提出的核心问题是：能否利用EM注入主

历史摘要 · 未重新核验 · arXiv cs.CR