该论文提出了一种名为Fuzz'EMup的方法，利用电磁（EM）侧信道辐射来指导纯黑盒环境下的嵌入式固件模糊测试。随着物联网和嵌入式设备在众多领域的普及，固件安全变得至关重要。模糊测试是一种系统化发现漏洞的有效手段，而覆盖率反馈能通过引导探索提升其效果。然而，许多设备由于固件提取、插桩或精确模拟的困难，导致覆盖率信息无法获取，测试者只能进行低效的黑盒模糊测试。论文的核心挑战在于如何将原始EM测量值转化为可靠的引导信号：EM迹线噪声大，时序抖动会导致不同迹线中的对应特征在时间上偏移。作者通过结合基于活动与空闲信号对比的频带选择（activity-to-idle signal contrast）和动态时间规整（dynamic time warping）来对齐每个输入的迹线并检测持续偏差，同时通过将执行组织成基于发散时间的树形结构来保持可扩展性。在四个真实固件目标上的评估表明，EM衍生的反馈增强了路径探索，相比无引导的模糊测试实现了更高的代码覆盖率。该方法为无法获取内部状态信息的黑盒固件测试提供了新的解决方案。