Facilitating Non-Intrusive In-Vivo Firmware Testing with Stateless Instrumentation.

该论文提出了一种名为 IPEA 的非侵入式动态固件测试框架，专门针对深度嵌入式设备（如基于微控制器 MCU 的物联网设备）的固件测试挑战。这类设备通常资源受限，运行环境与通用计算机差异巨大，导致现有动态测试技术难以直接应用。IPEA 的核心

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