本文针对噪声中尺度量子（NISQ）时代量子电路完整性评估的挑战展开研究。在NISQ设备上，量子电路需经历编译转换、受硬件噪声制约，并可能面临恶意篡改，因此确保电路完整性至关重要。现有验证方法通常仅依赖结构分析或行为评估中的单一维度，导致对电路正确性的评估不完整。作者提出了一种三层度量框架，综合结构完整性分数（SIS）、操作完整性分数（OIS）和交互图语义逻辑分数（IGS）。SIS通过比较电路图拓扑结构衡量全局结构相似性；OIS使用Jensen-Shannon距离量化电路输出概率分布的行为差异；IGS则通过模拟电路执行前的交互模式和依赖关系来评估交互层面的一致性。通过在基准量子电路上注入受控异常，实验表明：各度量捕捉到电路偏差的不同方面。特别地，存在结构盲点案例（SIS ≥ 0.95但行为偏差显著），其中OIS检测到93.85%的异常，而IGS检测到72.58%。这证明单一度量不足以可靠验证电路完整性，三层框架能提供互补洞察。该研究对量子编译器的正确性验证、抗篡改设计以及量子程序调试具有重要参考价值。