在噪声中等规模量子（NISQ）时代，量子电路在编译、硬件约束及潜在对抗性修改下面临完整性挑战。现有验证方法通常仅依赖结构分析或行为评估，导致对电路正确性的评估不完整。本文提出一个三层次度量框架，综合评估量子电路的完整性：结构完整性分数（SIS）捕捉全局结构属性；操作完整性分数（OIS）使用Jensen-Shannon距离量化行为差异；交互图语义逻辑分数（IGS）在预执行环境中建模交互模式和依赖关系。通过在基准量子电路上注入可控异常，作者证明每个度量捕获电路偏差的不同方面。特别地，在结构盲点案例（SIS >= 0.95）中，OIS检测到93.85%的异常，IGS检测到72.58%，突显了单一度量的局限性。研究表明，多个度量提供互补信息，单一度量不足以实现可靠的电路验证。该工作为量子软件供应链安全提供了新思路，适用于NISQ设备的编译、部署前校验及对抗性修改检测场景。