本研究针对 Intel 神经网络计算棒 2 (NCS2) 中的 Myriad X VPU，开展了系统性的单脉冲电磁故障注入 (EMFI) 实验。作者在 OpenVINO 运行时上运行了三个 ImageNet 训练的卷积神经网络（ResNet-18、ResNet-50、VGG-11），通过 1536 次热点定位测试和约 16000 次参数搜索测试，观察到单脉冲引发的四种可重复故障输出类别：无精度变化、微小静默数据损坏 (SDC)、重大持久性退化（在后续推理中持续存在直至模型重新加载），以及设备挂起需 USB 断电重启。其中，重大退化类在特征热点处以 18%–31% 的概率发生，导致 Top-1 精度降至 5% 以下，且该状态在所有后续推理中保持，直到显式重新加载模型——这种机制无法被任何推理 API 级别的检测手段捕获。更关键的是，即使在模型已加载但设备空闲时注入脉冲，也能触发该退化状态，表明仅靠加载时的完整性检查不足以防范。论文讨论了按严重程度分级的缓解策略，重点是可应用层实现且无需修改设备固件或 OpenVINO 运行时的措施。该工作填补了公开文献中对商用神经推理加速器在瞬态硬件干扰下故障响应的系统性表征空白，对部署在安全关键边缘场景的 AI 系统具有重要参考价值。