多核处理器在嵌入式系统中日益普及，以满足不断增长的性能需求。然而，多核架构的物理侧信道分析研究一直相对滞后，根本原因在于获取可用的电磁泄漏信号极为困难，这使得针对此类系统的侧信道安全研究远落后于实际应用，留下严重的安全隐患。针对这一空白，本文深入揭示了多核架构中的电磁泄漏产生机制，并首次成功实现了每核级别的泄漏利用，从而突破了以往无法在多核上进行有效物理侧信道分析的瓶颈。在方法上，作者提出了一种非侵入式的侧信道监控方式，能够以每个核心为粒度进行泄漏采集与分离，极大提升了监控粒度。为了验证其可行性和实用性，他们在一个配备射频前端的异构SoC平台上构建了原型系统，并在商业现成的四核嵌入式设备 Raspberry Pi 4B（采用 ARM Cortex-A72 内核）上开展实验。实验结果表明，该原型能够有效识别和提取不同核心的独立电磁泄漏信号，证明了该监控方法的有效性与可部署性。该研究不仅填补了多核系统物理侧信道分析的研究空白，同时也为后续的侧信道攻击防护、硬件安全监测、以及安全评估工具提供了全新的视角和基础。