该论文系统地研究了触摸屏电子设备（如智能手机、平板电脑）对故意电磁干扰（IEMI）的脆弱性，并首次提出了一种实用的 IEMI 攻击向量。研究背景是：虽然电子设备安全性已被广泛研究，但触摸屏面对电磁攻击的鲁棒性尚未被充分探索。论文的核心贡献在于不仅演示了攻击，还深入分析和量化了触摸屏受到 IEMI 攻击的底层机制。作者给出了在触摸屏上诱发“幽灵触摸”所需的最小电场强度和信号频率的计算方法，并在真实触摸屏上分析了不同幅度、频率、持续时间及多点触控模式对攻击效果的影响。研究还阐明了利用 IEMI 信号控制触摸屏设备的工作机制，并设计了一种视线外触摸屏定位器和触摸注入反馈机制，以支持实际攻击场景。攻击直接作用于触摸屏电路，不受触摸屏扫描机制或操作系统的限制，能够从超过常见桌面平均厚度的距离注入短点按、长按和全方位手势。与现有最先进的触摸屏攻击相比，该方法无需信号同步即可准确注入不同类型的触摸事件，因而更具鲁棒性和实用性。论文还演示了首个可即用的端到端攻击场景，而不仅仅是概念验证。该研究适合硬件安全、物理安全、移动设备安全及相关领域的研究人员和防御者阅读，有助于理解电磁干扰对触摸屏设备的真实威胁，并为建立相应防护措施提供依据。

本文提出了一种名为TESLA的新型侧信道攻击，利用智能手机电容触摸屏在扫描过程中产生的电磁辐射来窃取敏感信息。现代智能手机的电容触摸屏在检测触摸时会发出电磁辐射，这些辐射编码了触摸交互的时空演化过程，形成了统一的泄漏基础。攻击者可以通过秘密地将电磁探头放置在受害者设备附近，以非接触方式捕获这些辐射，从而提取屏幕解锁PIN码、键盘输入、交互应用类别以及连续手写轨迹等信息。与现有侧信道攻击相比，TESLA具有攻击目标更广、样本获取更高效、操作更实用等优势。实验在四款主流商用智能手机（iPhone X、小米10 Pro、三星S10、华为Mate 30 Pro）上进行，在私密会议室和公共图书馆等不同场景下取得了高精度：PIN码识别成功率99.3%，键盘输入重建成功率97.6%，应用推断成功率95.0%，字符识别准确率76.8%，二维手写轨迹重建的几何相似度（Jaccard指数）达到0.74。该研究揭示了电磁辐射作为触摸屏侧信道的通用性，对移动设备安全构成新威胁。