本论文提出了一种针对标准单元库的新型硬件木马（HT）威胁模型，并开发了相应的风险评估与预防方法。在无晶圆厂半导体制造模式下，设计方将版图交由代工厂制造，这为恶意HT插入提供了可乘之机。现有研究多关注标准单元之间的空白区域，但本文首次深入分析作为数字设计基本构建模块的标准单元本身存在的脆弱性。作者假设标准单元库本身不可信：攻击者在库中预置失活的HT单元，设计方使用该库完成综合与实现，但无法察觉异常；随后代工厂在制造过程中将失活单元替换为激活版本，从而在芯片中植入HT。基于开源和工业EDA工具，论文将Saed32nm和Sky130nm标准单元库转化为恶意库，并在AES-128加密核、以太网控制器和WISHBONE DMA引擎三个基准电路上进行了验证。实验表明，使用受感染库综合出的电路在单元总数、面积、动态功耗和静态功耗等设计级特征上与干净库差异极小，使得传统基于特征的检测方法难以区分。为了防御此类攻击，论文进一步提取上述特征用于二分类检测，评估了不同机器学习模型的检测效能。该研究揭示了供应链中一个被忽视的安全漏洞，并为标准单元库的完整性验证提供了新思路。