SPARC: Automated Root-Cause Analysis of Pre-Silicon Power Side-Channel Leakage in the Processor Design Flow
论文提出 SPARC，一个自动化的预硅功耗侧信道泄漏（PSCL）评估与根因分析框架。PSCL 源自处理器架构和微架构的偶然因素，对密码软件的机密性构成严重威胁。现有方案受限于仿真可扩展性差，或无法将泄漏归因于正确的硬件信号和软件指令，阻碍了
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← 返回所有主题VoltSchemer: Use Voltage Noise to Manipulate Your Wireless Charger.
本文提出了一种名为 VoltSchemer 的新型攻击方法，通过向无线充电器注入精心设计的电压噪声，攻击者可以操纵充电器的行为，从而实现对受电设备的非授权控制。研究背景在于无线充电技术日益普及，但现有安全研究多聚焦于通信协议层面，忽视了电源