论文提出 SPARC，一个自动化的预硅功耗侧信道泄漏（PSCL）评估与根因分析框架。PSCL 源自处理器架构和微架构的偶然因素，对密码软件的机密性构成严重威胁。现有方案受限于仿真可扩展性差，或无法将泄漏归因于正确的硬件信号和软件指令，阻碍了全面的根因分析。SPARC 利用宏单元级信息流追踪（IFT），辅以增强的阴影逻辑，标记源自秘密相关数据的切换活动。通过隔离这些活动，SPARC 应用统计泄漏测试检测 PSCL，同时将泄漏归因于特定硬件信号，并将这些信号映射到对应的软件指令，从而提供硬件和软件的全链路泄漏评估与根因分析。为验证 SPARC，在多个开源 RISC-V CPU（包括 32/64 位内核，顺序/乱序流水线）上，针对多种密码负载（包括掩码/未掩码 AES 和 ML-KEM/CRYSTALS-Kyber-512）进行了评估。SPARC 成功恢复了已知泄漏源，并识别了特定微架构泄漏源，在类似设计上实现了每条迹线 8 倍的仿真加速。通过在预硅阶段实现精确且可扩展的根因分析，该工作提供了一个实用框架，可在设计流程早期缓解 PSCL，从而增强未来处理器的安全性。

本文提出了一种名为 VoltSchemer 的新型攻击方法，通过向无线充电器注入精心设计的电压噪声，攻击者可以操纵充电器的行为，从而实现对受电设备的非授权控制。研究背景在于无线充电技术日益普及，但现有安全研究多聚焦于通信协议层面，忽视了电源传输通道的物理安全。核心方法是通过调节电源电压的幅度、频率和相位，产生特定的噪声模式，这些噪声会被无线充电器的控制电路解调并误认为是合法的控制指令。实验证明，该攻击能够导致设备过热、电池损坏、数据传输错误甚至固件篡改。主要贡献包括：首次系统性地分析了无线充电器电源链路的脆弱性；设计并实现了低成本（约10美元）的噪声注入装置；展示了针对Qi标准充电器的多种攻击场景。本文适合硬件安全工程师、物联网安全研究人员以及无线充电标准制定者阅读。