SPARC: Automated Root-Cause Analysis of Pre-Silicon Power Side-Channel Leakage in the Processor Design Flow

论文提出 SPARC，一个自动化的预硅功耗侧信道泄漏（PSCL）评估与根因分析框架。PSCL 源自处理器架构和微架构的偶然因素，对密码软件的机密性构成严重威胁。现有方案受限于仿真可扩展性差，或无法将泄漏归因于正确的硬件信号和软件指令，阻碍了

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