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学术论文2026-06-05 发布HIGH

ScaleDisturb: Exploiting Temporal Asymmetry to Amplify Read Disturbance in Modern DRAM Chips

该论文研究了现代DRAM芯片中的读取干扰现象(如RowHammer和RowPress),即频繁访问或持续打开一个DRAM行(攻击行)会导致其物理邻近的未被访问行(受害行)发生比特翻转。这种干扰机制可从软件栈层面被实际利用,并随着密度缩放而加

历史摘要 · 未重新核验 · arXiv cs.CR