该论文研究了现代DRAM芯片中的读取干扰现象（如RowHammer和RowPress），即频繁访问或持续打开一个DRAM行（攻击行）会导致其物理邻近的未被访问行（受害行）发生比特翻转。这种干扰机制可从软件栈层面被实际利用，并随着密度缩放而加剧。作者提出了一种新的DRAM访问模式——ScaleDisturb，通过不对称地延长两个攻击行的打开时间来放大读取干扰。在196个DDR4和3个HBM2 DRAM芯片上的严格实验表征表明，ScaleDisturb相比现有最先进的访问模式，能够在显著更少的行激活次数下引发比特翻转，使得所有受测DRAM芯片上的读取干扰攻击更容易实施，并且随着DRAM制造工艺缩小到更小的节点尺寸，DRAM对读取干扰的脆弱性增加。论文还在真实系统上展示了概念验证攻击，用户级程序利用ScaleDisturb比最先进的RowHammer和RowPress访问模式引发了更多比特翻转。最后，论文描述并评估了四种缓解ScaleDisturb引起的读取干扰比特翻转的解决方案，并呼吁进行更多研究。