AI-Assisted Design of a Post-Quantum Cryptographic Accelerator: A Deployed-Silicon Case Study

该论文针对后量子密码（PQC）迁移中硬件实现的安全验证盲区展开研究。由于硅片一旦流片后无法远程修补，标准验收测试（如已知答案测试 KAT）的覆盖率不足可能带来致命缺陷。作者指出，在 ML-DSA 签名算法中，拒绝采样循环会根据输入消息动态调

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